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EKS-037 Passive Device Test P
°¡°Ý¹®ÀÇ

EKS-325
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BT-105 Calibration and Test Program
°¡°Ý¹®ÀÇ

EKS-039 Passive Device Test
°¡°Ý¹®ÀÇ

EKS-037 Passive Device Test Prog
°¡°Ý¹®ÀÇ

EKS-038 Calibration and Test Prog
°¡°Ý¹®ÀÇ

B101 Soldering temperature system
280,000¿ø

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MODEL : EKS-039 Passive Device Test   
Passive Device Test ¿ëµµ Network Analyzer¸¦ »ç¿ëÇÏ¿© Å×½ºÆ® ÇÏ´Â ¸ðµç Á¦Ç°
   
 ÆǸŰ¡°Ý
: °¡°Ý¹®ÀÇ(VATº°µµ)
 Àû¸³±Ý : 0 ¿ø
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: 460,000 ¿ø
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Passive Device Test

¿ëµµ

Network Analyzer¸¦ »ç¿ëÇÏ¿© Å×½ºÆ® ÇÏ´Â ¸ðµç Á¦Ç°

»ç¿ëÀåºñ

»ç¿ëÀåºñ : Agilent ENA Series, 875x, GSI A333

Åë½Å

GPIB

ÁÖ¿ä±â´É

À̹ÌÁö ÀúÀå, À̹ÌÁö ´ýÇÁ ±â´É, è¹ö½ÃÇè

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¹è¼ÛÁö¿ª : Àü±¹

¹è¼Ûºñ : 3,000ÀÔ´Ï´Ù.(µµ¼­,»ê°£,¿ÀÁö ÀϺÎÁö¿ªÀº ¹è¼Ûºñ°¡ Ãß°¡µÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.)
º» »óÇ°ÀÇ Æò±Õ ¹è¼ÛÀÏÀº 4ÁÖÀÏÀ̳»ÀÔ´Ï´Ù.(ÀÔ±Ý È®ÀÎ ÈÄ)
     ¼³Ä¡ »óÇ°ÀÇ °æ¿ì ´Ù¼Ò ´Ê¾îÁú¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
     [¹è¼Û¿¹Á¤ÀÏÀº ÁÖ¹®½ÃÁ¡(ÁÖ¹®¼ø¼­)¿¡ µû¸¥ À¯µ¿¼ºÀÌ ¹ß»ýÇϹǷΠÆò±Õ ¹è¼ÛÀÏ°ú´Â Â÷ÀÌ°¡ ¹ß»ýÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.]

¹è¼Û±â°£ :ÁÖ¹®ÀÏ Æ÷ÇÔ 4ÁÖÀÏÀ̳»¿¡ »óÇ°À» ¹ÞÀ¸½Ç ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. (¿¬ÈÞ/°øÈÞÀÏ Á¦¿ÜÀ̸ç, Çö±Ý ÁÖ¹®ÀÏ °æ¿ì ÀÔ±ÝÀÏ ±âÁØÀÔ´Ï´Ù.)